エンベデッドシステムスペシャリスト 2018年 春期 問4

バウンダリスキャンテストの標準方式

JTAG(IEEE 1149.1)は、バウンダリスキャンテストの標準方式です(正解ウ)。基板上のICのピン状態をシフトレジスタ経由で検査する技術です。