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Certia
国家試験問題

診療放射線技師国家試験 第73回 問93

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スリット法で測定したCRシステムのプリサンプリングMTFを図に示す。 高空間周波数領域でMTFが上昇している原因として考えられるのはどれか。

正解と解説

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正解 5

金属スリット長軸を画素列と平行にした。

スリット法によるMTF測定では、金属スリットの長軸を検出器の画素列に対して平行に配置するとエイリアシングの影響を受けやすく、ナイキスト周波数付近で見かけ上MTFが上昇する現象が生じる。正しくは画素列に対しわずかに傾けて測定することでこの影響を回避できる。

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