問94
94 / 200
FPDの雑音特性に最も影響するのはどれか。
構造雑音
焦点寸法
検出量子数
量子化雑音
dexe〈l detector element〉寸法
FPDの雑音特性は入射X線光子数に由来する量子雑音の影響が最も大きく、その指標として検出量子数(検出器の信号形成に寄与するX線光子数)が重要となる。構造雑音・焦点寸法・量子化雑音・画素寸法の雑音特性への影響は相対的に小さい。