視能訓練士国家試験 第51回 問103

van Herick法で隅角の深さを推測できる。

van Herick法は細隙灯で周辺前房の深さを角膜厚と比較することで隅角の広さを非接触的に推測するスクリーニング法である。細隙灯顕微鏡は前置レンズなどを併用すれば眼底検査も可能であり、鏡面反射法は角膜内皮の観察、青色フィルタはフルオレセイン染色所見の観察、広汎照明法は前眼部全体の概観観察に適する。