テクノロジ系
秋期
応用情報技術者 2011年 秋期 問23
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LSIの故障メカニズムの一つである ESD (Electrostatic Discharge)破壊の説明とし て、適切なものはどれか。
正解と解説
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正解 ウ
静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
ESD(静電気放電)破壊は、静電気の放電によって半導体素子が破壊される現象なのでウが正解です。アは機械的断線、イはラッチアップ(寄生サイリスタの導通)、エはエレクトロマイグレーションなど過電流による断線で、いずれも別のメカニズムです。