問23
LSIの故障メカニズムの一つである ESD (Electrostatic Discharge)破壊の説明とし て、適切なものはどれか。
機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象
寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
電流が過度に流れることによって、配線が切断されてしまう現象 - 13=
