問195
スリット法でCRシステムのプリサンプルドMTFを測定したところ、高空間 周波数領域でMTFが上昇した。 原因で考えられるのはどれか。
階調補正を行った。
有効露光量変換を行わなかった。
雑音による量子モトルが強く出た。
イメージングプレートが劣化していた。
金属スリット長軸を画素列と平行にした。
