診療放射線技師国家試験 第78回 問195

金属スリット長軸を画素列と平行にした。

スリット法によるプリサンプルドMTF測定では、金属スリットの長軸を画素配列方向と厳密に平行にすると、各画素からのサンプリング位置がすべて等価となりエイリアシングによる偽の高周波成分が生じ、見かけ上高空間周波数域でMTFが上昇する。正しい測定では画素列に対しわずかに傾けてスリットを配置する必要がある。