問58
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間欠性外斜視の融像除去眼位を測定する方法はどれか。
交代プリズム遮閉試験
Bielschowsky頭部傾斜試験
Hirschberg試験
Krimsky試験
同時プリズム遮閉試験
交代プリズム遮閉試験は左右の眼を交互に遮閉することで融像を完全に破壊した状態の斜視角(総偏位角)を測定する方法であり、間欠性外斜視の融像除去眼位を評価するのに適している。同時プリズム遮閉試験は融像を保ったままの顕性斜視角のみを測定する方法であり、目的が異なる。