問100
X線回折法に関する記述のうち、正しいのはどれか。2つ選べ。
X線源のターゲット(対陰極)には Cuや Moが用いられる。
測定には、連続X線が通常用いられる。
X線結晶構造解析では、回折斑点の強度から結晶の格子定数が求められる。
粉末X線回折法では、結晶構造に基づいた同心円状の回折像が得られる。
X線を結晶に照射すると、主にその物質中の原子核の強制振動が起こり、散乱X線が生じる。